El Laboratorio de Caracterización de Materiales del Centro Atómico Bariloche cuenta dos difractometros de Rayos X. Ambos difractometros están asociados al Sistema Nacional de Rayos X (http://rayosx.mincyt.gob.ar/).
Difractometro PANanalytical Empyrean
Se trata de un difractometro multipropósito equipado con el módulo PreFix que permite intercambiar fácilmente diferentes configuraciones pre-alineadas ampliando las capacidades de análisis. Cuenta con un detector PIXcel 3D1 que permite realizar estudios en muestras de polvos, películas delgadas, nanomateriales y objetos solidos gracias a su capacidad de trabajar en modo puntual, lineal y de área. El haz incidente puede ser lineal o puntual2. La muestra o espécimen puede ser colocado en diferentes portamuestras. Por ejemplo, portamuestras planos (Flat simple Stage) que pueden colocarse directamente o utilizando un intercambiador automático. Cuna de Euler (Chi-Phi-Z 240 mm reflection) ideal para estudiar películas delgadas y realizar estudios de textura.
Portamuestras giratorios (Reflection Transmition Spinner y Capilary Spinner) para una mejor estadística. Es posible realizar estudios no ambientales ya que está equipado con una cámara de alta temperatura (AP HTK 1200N).
Combinando los diferentes módulos es posible realizar difracción de polvos de alta resolución desde T ambiente hasta 1200 C, identificación de fases y análisis cuantitativos, estudios en películas delgadas y revestimientos (reflectometria XRR, difracción con ángulo rasante GAXRD, etc), efectos de tensiones y tamaños de partículas, estudios de textura, estudios cinéticos en condiciones no ambientales, etc.
Difractometro Philips 1800 y 1700
Se trata de un difractometro convencional ideal para realizar estudios de rutina.
Además del goniómetro que opera con muestras a temperatura ambiente cuenta con una cámara de bajas temperatura y otra de altas temperatura.
