Este microscopio electrónico de barrido de baja resolución (>10nm) es ideal para tareas de rutina. Está equipado con un detector de electrones secundarios (SE) y otro dispersivo en energía (EDS).
Phillips 515
Microscopios de Barrido Electrónico (SEM)
El Laboratorio de Caracterización de Materiales del Centro Atómico Bariloche cuenta dos microscopios SEM, uno de ellos con cañón de emisión de campo SEM-FEG. Ambos microscopios están asociados al Sistema Nacional de Microscopia (http://www.microscopia.mincyt.gob.ar/).
Información adicional
- Lugar: Centro Atómico Bariloche
- Dependencia: CM-GIA
-
Responsables:
Alberto Caneiro - Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo.
Daniel Wilberger - Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo.
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